Can I calculate the dispersion of nematic LC's refractive index if I have absorption spectrum in visible and UF region by Kramers-Kronig relation. How can I do it if it's possible?
And what is your goal? My opinion, the Kramers-Kronig relations have quite a contentious issue even for the canonical semiconductor such as silicon. Usually measured dielectric constant in the near infrared region and the visible region of the transition using here these relations СС. However, even on the red line 0.63 micron, and the imaginary part of DC index prelommleniya disputiruetsya. The problem is that the rCC model pretty thing. They are absolutely accurate for non-dissipative srredy where the imaginary part of the DP defines only the loss of the braking of the electron field. If there is absorption, the electron passes from the valence band to the conduction band, the energy of the light is distributed in the heat energy to the lattice vibrations. The law of conservation of energy in the photons, electrons are not stored. I would advise you to apply the technique of reflection, that is, ellipsometry. Russia has produced excellent ellipsometers spectrophotometers.
I wish you success, Miroslav.
А какая у Вас цель? Мое мнение, соотношения Крамерса-Кронига есть довольно спорным вопросом даже для канонического полупроводника, например кремния. Обычно измеряют диэлектрическую проницаемость в ближней ИК области, а в видимую область переходят при помощи вот этих соотношений КК. Однако, уже на красной линии 0.63 мкм мнимая часть ДП и показателя преломмления диспутируется. Проблема в том, что сКК довольно модельная вещь. Они абсолютно точны для недиссипативной срреды, где мнимая часть ДП определяет только потери на торможение электрона полем. Если же есть поглощение, электрон переходит из валентной зоны в зону проводимости, энергия из световой распределяется в энергию тепла на колебания решетки. Закон сохранения энергии в системе фотоны-электроны не сохраняется. Я бы вам советовал применять технику отражения, т.е. эллипсометрию. В России выпускаются отличные эллипсометры-спектрофотометры.
Я отвечу по-русски, с позволения господ. Дело в том, что для однородной пленки сделать точный электродинамический анализ не так и просто. Даже при определении коэффициента поглощения по пропусканию пользуются уравнением, которое приближенное. Вот рассчитайте мне из спектров пропускания показатель преломления - ан, нет. Когда я сказал, что можно воспользоваться с.К-К, имелось в виду, что - в принципе, да. На самом деле, это безнадежное дело, тем более для ЖК, у него диэлектрический тензор зависит от координаты.